德國PCE-GM 75 - 用於小表麵的光澤度測試儀

• 小表麵的表麵測試

• 60 度測量角度

• 測量範圍：0 - 99.9 GU;100 - 1000 GU

• 分辨率：0.1 GU;1 個(ge) GU

• 一鍵操作

表麵測試儀(yi) PCE-GM 75

小表麵的表麵測試 / 可存儲(chu) 1,245 個(ge) 讀數的數據存儲(chu) 器 / 60° 測量幾何形狀 / 無需額外軟件即可進行評估 / 一鍵操作 / 包括校準標準

表麵測試儀(yi) 的測量表麵為(wei) Ø 4.5 mm。由於(yu) 測量表麵小，表麵測試儀(yi) 可以在特別小的表麵上進行測量。表麵測試儀(yi) 的最大誤差為(wei) 1%，是一種高精度測量儀(yi) 器，可快速輕鬆地對表麵進行測量。一鍵式操作允許快速輕鬆地操作表麵檢查設備。

表麵測試儀(yi) 的另一個(ge) 特殊功能是數據存儲(chu) 功能。該表麵測試儀(yi) 可自動存儲(chu) 多達 1,245 個(ge) 測量值。要讀取數據，表麵測試儀(yi) 必須連接到計算機。不需要額外的驅動程序或軟件即可從(cong) 表麵測試儀(yi) 讀取數據。存儲(chu) 的數據以 .txt 文件格式保存在表麵檢測設備上，可以直接分析。除了存儲(chu) 測量數據外，還會(hui) 為(wei) 每個(ge) 測量創建一個(ge) 時間戳。